16年前64GB固态硬盘写入1PB仍存活 远超40TBW保修标称值

科技媒体Tom's Hardware 6月19日报道，YouTube频道WolfyTech发起的一项极限测试显示，一块16年前发布的闪迪P4 64GB固态硬盘在累计写入1PB数据后依然正常运行，其写入量达到标称保修值40TBW的25倍。

极限测试：1PB写入量下的老化表现

WolfyTech在6月19日发布的博文中公布了测试过程。测试对象为闪迪P4 64GB固态硬盘，发布于约16年前。该硬盘被持续写入数据，直至累计写入量达到1PB（按商业标准约合1000TB/100万GB）。测试结果证明，硬盘未出现完全失效，且仍可正常识别与读写。

该固态硬盘标称写入总量（TBW）为40TBW，而实际写入量达到1PB，相当于标称值的25倍。

TBW含义：保修参考而非寿命硬性上限

写入总量（TBW，Terabytes Written）是衡量固态硬盘可写入数据量的常见指标。该指标通常被厂商用于设定保修期限，而非绝对寿命上限。本次测试验证了TBW作为保修参考的行业共识——固态硬盘的实际耐用度可能远高于标称值。

测试对行业认知的潜在影响

Tom's Hardware在报道中指出，该测试结果可能改变用户对SSD寿命的传统看法。长期以来，消费者习惯将TBW数值视为硬盘的“死亡线”，但实际测试表明，在合理使用条件下，早期SSD仍能承受远超标称的写入负载。

• 测试时间：2025年6月19日（YouTube频道发布）及2025年6月20日（IT之家转引报道）
• 测试硬件：闪迪P4 64GB固态硬盘，发布于约2009年前后
• 关键数据：1PB写入量，标称40TBW

一项持续17年的写入测试显示，老款MLC固态硬盘在远超官方寿命后仍可运行

一项针对2010年发布的闪迪P4固态硬盘的长达17年写入耐力实验于2025年结束。该实验旨在测试固态硬盘（SSD）实际使用寿命是否远超厂商设定的TBW（总写入字节数）指标。

实验背景与测试对象

被测试的闪迪P4硬盘使用32nm工艺制造的2D MLC（多层单元）NAND闪存。MLC即“多层单元”，指每个存储单元可储存2比特数据。与当前的3D TLC（三层单元）或QLC（四层单元）NAND相比，该老制程的MLC单元物理尺寸更大、电压更稳定，因此能够承受更多的编程/擦除循环。

实验中的TBW（总写入字节数）指的是厂商为固态硬盘设定的理论写入数据量上限，通常以TB为单位，代表在保修期内可安全写入的数据总量。超出此数值后硬盘可能逐渐降速或变得不稳定，但不会立即失效。通常TBW数值越大，理论上硬盘越耐用。

测试硬盘在持续写入约XXPB（PB即拍字节，1PB=1024TB）的数据量后停止运行。该运行数据量远超其出厂时设定的TBW标称值，且硬盘在大部分运行时间内保持了读写速度的稳定。

结果分析：老制程与当前技术的差异

该实验展示的是2010年技术水平下的个别样本表现，并不直接代表当前市场上普遍使用的3D TLC或QLC固态硬盘的实际表现。

当前市场上的主流产品多采用3D TLC或QLC NAND，3D指将存储单元多层堆叠以实现更高密度，TLC则指每个存储单元可储存3比特数据。由于单元密度更高、物理尺寸更小，其理论写入循环次数通常低于老制的MLC。

业内人士指出，这一结果对于理解固态硬盘寿命标称与实际可靠性之间的关系具有参考价值。在常规消费级使用场景下，多数用户的年平均写入量远低于实验中的极限值。